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  • 日本olympus超聲波測厚儀27MG
    日本olympus超聲波測厚儀27MG

    日本olympus超聲波測厚儀27MG 超聲波測厚儀27MG可以從一側準確測量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設備結構的壁厚減薄。它僅重 340 克,符合人體工程學(xué)設計,單手操作更方便。

    時(shí)間:2025-05-03型號:
  • 適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M
    適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M

    日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M 測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動(dòng) 通過(guò)自動(dòng)傳輸機制實(shí)現穩定的測量重復性 測量數據可自動(dòng)保存在個(gè)人電腦上

    時(shí)間:2025-05-03型號:
  • 臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S
    臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S

    日本YAMABUN山文電氣臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S 實(shí)現高測量重復性(± 0.01 μm 或更小,取決于對象和測量條件) 不易受溫度變化的影響 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線(xiàn)式和在制造過(guò)程中使用的在線(xiàn)式。 反射型允許從薄膜的一側進(jìn)行測量 僅可測量透明涂膜層(取決于測量條件)

    時(shí)間:2025-05-03型號:
  • 軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2
    軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2

    日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2 高測量分辨率 由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。 即使表面狀況粗糙,也可以進(jìn)行測量。 基重測量 操作簡(jiǎn)單(具有自動(dòng)介電常數設置功能)

    時(shí)間:2025-05-03型號:
  • 臺式離線(xiàn)接觸式測厚儀TOF-6R001
    臺式離線(xiàn)接觸式測厚儀TOF-6R001

    日本YAMABUN山文電氣臺式離線(xiàn)接觸式測厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測量方法接觸式/線(xiàn)性規 測量對象薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等) 測量原理線(xiàn)規

    時(shí)間:2025-05-03型號:
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