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臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S

臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S

產(chǎn)品型號：

所屬分類(lèi)：超聲波測厚儀

產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡(jiǎn)要描述：日本YAMABUN山文電氣臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S
實(shí)現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線(xiàn)式和在制造過(guò)程中使用的在線(xiàn)式。
反射型允許從薄膜的一側進(jìn)行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

詳細說(shuō)明：

日本YAMABUN山文電氣臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S


產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 實(shí)現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）

  • 不易受溫度變化的影響

  • 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線(xiàn)式和在制造過(guò)程中使用的在線(xiàn)式。

  • 反射型允許從薄膜的一側進(jìn)行測量

  • 僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

  • 模型飛行時(shí)間
    測量方法非接觸式/光譜干涉式
    測量對象電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
    測量原理光譜干擾型

    日本YAMABUN山文電氣臺式離線(xiàn)分光干涉式測厚儀TOF-S

  • 產(chǎn)品規格
    測量厚度1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料）　　　　
    測量長(cháng)度50-5000 毫米
    測量間距1 毫米 ~
    最小顯示值0.001微米
    電源電壓AC100 V 50/60 Hz
    工作溫度限制5～45℃（測量時(shí)溫度變化1℃以?xún)龋?/span>
    濕度35-80%（無(wú)冷凝）
    測量區域φ0.6 毫米
    測量間隙約 30 毫米




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