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日本napson非接觸式硅錠壽命測量?jì)x

日本napson非接觸式硅錠壽命測量?jì)x

產(chǎn)品型號： HF-90R

所屬分類(lèi)：

產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡(jiǎn)要描述：日本napson非接觸式硅錠壽命測量?jì)xHF-90R
樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測量（單晶硅）
通過(guò)光電導衰減法進(jìn)行非接觸式測量
通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數據處理（軟件）

詳細說(shuō)明：

日本napson非接觸式硅錠壽命測量?jì)xHF-90R

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測量（單晶硅）
  • 通過(guò)光電導衰減法進(jìn)行非接觸式測量
  • 通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數據處理（軟件）

測量規格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內）

日本napson非接觸式硅錠壽命測量?jì)xHF-90R

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測量（單晶硅）
  • 通過(guò)光電導衰減法進(jìn)行非接觸式測量
  • 通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數據處理（軟件）

測量規格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內）



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