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日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀

日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀

產(chǎn)品型號: PVE-80

所屬分類(lèi):其他設備

產(chǎn)品時(shí)間:2025-05-03

簡(jiǎn)要描述:日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80
一種非接觸式電阻測量系統,使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理,可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測量。

詳細說(shuō)明:

日本napson非接觸型脈沖電壓超低電阻檢測儀PVE-80

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 一種非接觸式電阻測量系統,使用脈沖電壓激勵方法作為測量原理,可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測量。

  • 節省空間的設計主體外殼,便攜式可移動(dòng)臺

  • 通過(guò)PC(軟件)進(jìn)行簡(jiǎn)單的測量操作,數據存儲和管理

  • 測量顯示單元可以根據應用(薄層電阻,電導率,電導率)進(jìn)行更改

    *本產(chǎn)品使用由我公司與千葉大學(xué)聯(lián)合開(kāi)發(fā)的脈沖電壓激勵方法(專(zhuān)li號5386394)。

測量規格

測量目標

與新材料/功能材料相關(guān)(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線(xiàn)等)與
導電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
與化合物半導體相關(guān)(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查詢(xún))請給我)

測量尺寸

?A4尺寸(W300 x D210mm)

測量范圍

50μ?1mΩ/平方

 

 



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