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如何提高管道生產(chǎn)品質(zhì)-管道內表面粗糙度測量?jì)xArasamir一年前，我們推出了管道內表面粗糙度測量?jì)x“Arasamir”。它是*yi個(gè)能夠使用Φ0.35mm超細纖維鏡觀(guān)察管道內表面的設備。從那時(shí)起，我們通過(guò)改善測量?jì)x器的性能并將其用...
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無(wú)損管內表面粗糙度測量?jì)x技術(shù)-無(wú)損內表面測量?jì)x“Arasamir”基本原理是在小直徑管中插入比小直徑管的內徑小的管子（內徑為φ0.5mm至φ1.5mm），并獲得內表面圖像的亮度信息。并預先獲得表面粗糙度和亮度，并根據測量數據的相關(guān)性計算出表...
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日本高溫観察裝置-日本米倉制作yonekura[通用規格]在所有陣容中都可以觀(guān)察加熱情況爐體的封閉結構可在任何大氣中加熱（大氣中加熱，氣流，真空）可以進(jìn)行高速加熱/冷卻，在1000°C或更低的溫度下（取決于條件），可以以50°C/秒的速度加...
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日本用于半導體行業(yè)的高精度非接觸式測厚儀OZUMA22半導體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量）1.1?？梢酝ㄟ^(guò)空氣背壓法進(jìn)行非接觸式厚度測量（非接觸式厚度測量），并且...
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日本用于實(shí)驗和研究的紫外線(xiàn)簡(jiǎn)易曝光裝置UV-2000MT可與2000W金屬鹵化物燈和汞燈互換，支持多種波長(cháng)，是實(shí)驗和研究的理想選擇。型式UV－2000MTサイズ本體450（W）×450（D）×450（H）㎜電源450（W）×450（D）×2...
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日本san-eielectric三榮新款LED紫外線(xiàn)固化光源的差異性繼傳統的UV光纖光源（使用汞燈）之后，我們提供了使用LED的UV固化系統（固化設備）。與傳統產(chǎn)品相比，主機可以保持較低的價(jià)格，并且通過(guò)使用LED還可降低運行成本。峰值波長(cháng)3...
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日本seiwaopt近紅外鹵素燈光源技術(shù)SIS-150（-NIR/-AIR）近紅外輻射設備一種在近紅外區域具有峰值的光纖光源設備。通過(guò)將其與專(zhuān)yong光學(xué)系統和對近紅外區域敏感的相機配合使用，它非常適合無(wú)損檢測，例如Si晶圓的內部檢測和背面...
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日本環(huán)氧樹(shù)脂收縮應力測量技術(shù)大量的半導體封裝被安裝在諸如移dong電話(huà)和膝上型計算機之類(lèi)的信息終端設備中使用的半導體產(chǎn)品上。些半導體封裝中，IC芯片用作為熱固性樹(shù)脂的環(huán)氧樹(shù)脂密封，填充在IC芯片和印刷電路板之間并固化，這對于確保電子部件的強...
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什么是停止性能測量設備？日本inoden井上電子IDST-D型停止性能測量設備是一種用于測量并顯示具有突然停止機構的動(dòng)力壓床突然停止時(shí)的最大停止時(shí)間以及此時(shí)的慣性下降值的設備。特征易于設置，可以快速工作。讀取機器行程并自動(dòng)設置停止輸出位置。...
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日本電測densoku多點(diǎn)同時(shí)測??量渦流膜厚儀技術(shù)多點(diǎn)同時(shí)測定渦電流式膜厚計本體1臺で多點(diǎn)を同時(shí)に測定します。多點(diǎn)同時(shí)測定渦電流式膜厚計の特長(cháng)?多點(diǎn)を同時(shí)に測定?測定時(shí)間3秒?50～100點(diǎn)の同時(shí)測定が可能多點(diǎn)同時(shí)測定渦電流式膜厚計製品一...
