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日本h-repic半導體制造用視覺(jué)LED檢查燈SPA2-10CD 型號：SPA2-10CD / SPA2-10CW / SPA2-10SD / SPA2-10SW 使用行業(yè)領(lǐng)xian的4芯片LED 我們*的恒流調光方法 結構可實(shí)現jia照明

日本NCC用于內置設備的異物檢查燈LED Ages 它是一種可視化燈，可以照射更多的直射光，因為它使用了據說(shuō)具有較高相對視覺(jué)靈敏度的綠光LED（峰值波長(cháng)約為525 nm）和具有30度方向特性的槍式彈性L(fǎng)ED。由于照射范圍廣，因此在膜接合工序，半成品的表面檢查等中，可以觀(guān)察到大約10μm的異物。

日本ncc超緊湊型紫外線(xiàn)檢查燈Artel S UV 清潔后的殘油通常是肉眼看不見(jiàn)的，并且會(huì )影響后續的涂層，粘合和組裝。生產(chǎn)現場(chǎng)使用的油通常包含熒光物質(zhì)，這些物質(zhì)是發(fā)光的來(lái)源，通過(guò)用UV Artel S輻照，產(chǎn)品中殘留的油會(huì )發(fā)光并且可以通過(guò)肉眼看到。它可以用作內部清潔場(chǎng)所質(zhì)量改進(jìn)的管理工具，而無(wú)需將剩余油含量的測量外包。

日本ncc便于攜帶的小型LED產(chǎn)品瑕疵檢查燈Quantum 在諸如噴漆，印刷，精密裝配和薄膜制造等場(chǎng)所，會(huì )發(fā)生許多由灰塵等粗顆粒引起的缺陷。然而，在正常情況下不能目視確認粗顆粒。因此，通過(guò)用產(chǎn)生直度和強光的“量子”照射產(chǎn)品和夾具的表面，很容易在視覺(jué)上檢查粗顆粒。

日本ncc用于檢查設備的清潔度和灰塵粘附Triton 在上漆，印刷，貼膜，精密裝配等過(guò)程中，z常見(jiàn)的缺陷是外觀(guān)缺陷。原因是工作現場(chǎng)浮起的灰塵以及附著(zhù)在工作和設備上的灰塵。如果可以在視覺(jué)上預先觀(guān)察到，但可見(jiàn)顆粒的大小為90μm或更大，可以采取對策。由于在噴涂過(guò)程中出現問(wèn)題的顆粒尺寸約為10μm，因此無(wú)法通過(guò)肉眼觀(guān)察到=無(wú)法采取任何對策。