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日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000

日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000

產(chǎn)品型號：

所屬分類(lèi)：熱擴散

產(chǎn)品時(shí)間：2025-05-03

簡(jiǎn)要描述：日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000
該設備是一種分布測量設備，可以同時(shí)評估塞貝克系數和熱導率。同時(shí)評估可以輕松評估熱電特性。還可以評估功能梯度材料，多層基板和有機材料的熱導率分布。

詳細說(shuō)明：

日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000

 

使用熱探針的塞貝克系數和熱導率的二維分布測量裝置。
該設備是一種分布測量設備，可以同時(shí)評估塞貝克系數和熱導率。同時(shí)評估可以輕松評估熱電特性。還可以評估功能梯度材料，多層基板和有機材料的熱導率分布。
有望用作材料評估的基本工具。

 

使用

  • 熱電材料的簡(jiǎn)單性能評估
  • 功能梯度材料的熱性能分布評估
  • 評估無(wú)機材料，聚合物材料和晶體材料的均質(zhì)性
  • 實(shí)用材料（印刷電路板，多層板等）的缺陷評估

特征

  • 1點(diǎn)分布可以在10秒內測量
  • 間距為20μm時(shí)可以進(jìn)行分布分析評估
  • 通過(guò)使用標準材料進(jìn)行校準，可以提高導熱系數的精度。
  • 樣品尺寸大角度可達50毫米（可選）

日本advance掃描熱探針顯微圖像STPM-1000

規格

測量溫度室溫+ 5℃
大樣本量大角度20毫米x厚度5毫米
塞貝克系數精度±10％（單個(gè)散裝樣品的厚度為1 mm）
導熱精度*±50％（單個(gè)散裝樣品的厚度為1毫米）
1點(diǎn)測量時(shí)間少于10秒
本地分辨率20微米
位置控制分辨率1微米
樣品移動(dòng)距離x軸50mm，y軸50mm，z軸10mm

 

電源AC100V 15A（不包括PC）W
外形尺寸（主體）寬510 x深650 x t460（毫米）
重量約70kg
安裝面積大約W1200 x D700（mm）*桌子

應用實(shí)例

  • 熱電材料的簡(jiǎn)單性能評估
  • 功能梯度材料的熱性能分布評估
  • 評估無(wú)機材料，聚合物材料和晶體材料的均質(zhì)性
  • 實(shí)用材料（印刷電路板，多層板等）的缺陷評估
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