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日本電通產(chǎn)業(yè)(DSK)HF-SL-A1214LC-LEX-SWD高均勻性透射光源專(zhuān)業(yè)解析

發(fā)布時(shí)間:2025-06-18 點(diǎn)擊量:140

在精密視覺(jué)檢測領(lǐng)域,照明系統的性能直接影響缺陷檢出率與測量精度。日本電通產(chǎn)業(yè)(Densoku,DSK)推出的HF-SL-A1214LC-LEX-SWD透射光源,憑借其光學(xué)均勻性、緊湊化設計及穩定的調光控制,成為L(cháng)CD面板、PCB基板及光學(xué)元件檢測的理想選擇。本文將從技術(shù)特性、行業(yè)應用及選型要點(diǎn)三個(gè)維度進(jìn)行深度剖析。

一、核心技術(shù)特性:精準光學(xué)的工業(yè)級實(shí)現

1. 高均勻性照明

  • 光學(xué)設計:采用環(huán)形熒光燈陣列(CCFL)結合多層擴散結構(霧化膜+微棱鏡導光板),實(shí)現9分割照度比≥90%,中心與邊緣亮度差異控制在±5%以?xún)?,有效避免檢測區域的光斑干擾。

  • 亮度輸出:最高亮度達10,000cd/m2(典型值33,000勒克斯),支持低照度環(huán)境下的高信噪比成像,尤其適合OLED面板的微米級Mura缺陷識別。

2. 超薄模塊化結構

  • 機械設計:35mm超薄機身(A4/A3尺寸可選)與4~6kg輕量化設計,適配集成至自動(dòng)化檢測設備或機械臂末端。殼體采用鋁合金材質(zhì),兼顧散熱與抗電磁干擾(EMI屏蔽達20dB)。

  • 擴展能力:支持多單元橫向拼接(需專(zhuān)用連接件),最大可擴展至600mm×400mm發(fā)光面,滿(mǎn)足大尺寸面板檢測需求。

3. 智能化調光系統

  • 精準控制:通過(guò)配套SWD-MT系列電源實(shí)現0~100%無(wú)級調光(線(xiàn)性誤差<2%),并支持外部TTL觸發(fā)信號(響應時(shí)間<1ms),匹配高速生產(chǎn)線(xiàn)頻閃拍攝(34kHz高頻驅動(dòng)無(wú)頻閃)。

  • 穩定性保障:內置溫度補償電路,在5℃~35℃環(huán)境下亮度波動(dòng)<1%,確保長(cháng)期連續工作的可靠性。

二、典型行業(yè)應用場(chǎng)景

應用領(lǐng)域檢測需求光源配置方案效果提升
面板制造LCD亮暗點(diǎn)、色偏、劃痕60°低角度透射+偏振濾光片抑制玻璃表面反光,增強內部缺陷對比度
PCB檢測微米級線(xiàn)路斷線(xiàn)、焊膏厚度同軸照明模式(分光鏡集成)減少銅箔紋理干擾,凸顯三維形貌特征
光學(xué)元件鍍膜均勻性、氣泡/雜質(zhì)暗場(chǎng)輔助+漫射板透射提升邊緣瑕疵與透明介質(zhì)的成像清晰度

注:實(shí)際配置需結合相機分辨率(建議≥5MP)與鏡頭視場(chǎng)角(如10倍遠心鏡頭)優(yōu)化。

三、選型與使用關(guān)鍵考量

  1. 兼容性驗證

    • 相機同步:需實(shí)測與Basler ace 2等工業(yè)相機的觸發(fā)延遲(建議≤10μs),避免高速拍攝時(shí)的畫(huà)面撕裂。

    • 光學(xué)匹配:若檢測彩色缺陷,需驗證光源顯色指數(CRI>90)與相機色彩濾波片的波長(cháng)匹配性。

  2. 環(huán)境適應性

    • 在粉塵環(huán)境(如PCB車(chē)間)建議加裝防塵罩,避免擴散板污染導致均勻性下降。

    • 長(cháng)期使用需定期校準(推薦每6個(gè)月用CS-200分光光度計檢測亮度衰減)。

  3. 合規性要求

    • 日本市場(chǎng)需確認PSE菱形認證(證書(shū)號示例:PSE-216995),歐盟需符合EN 61347-1電氣安全標準。

四、維護與升級建議

  • 壽命管理:CCFL版本額定壽命8,000小時(shí),建議在亮度衰減至70%時(shí)更換燈管(DSK提供原廠(chǎng)校準服務(wù))。

  • 升級選項:若追求更長(cháng)壽命,可評估同系列LED型號(如HF-SL-LED100,50,000小時(shí)壽命),但需注意色溫一致性差異。

結語(yǔ)
DSK HF-SL-A1214LC-LEX-SWD憑借其“高均勻性+超薄+智能調光"三位一體的設計,在精密檢測領(lǐng)域展現了
的性?xún)r(jià)比。用戶(hù)需結合具體工件特性(如透光率、表面材質(zhì))與檢測系統(相機、算法)進(jìn)行光路優(yōu)化,方能大化其性能優(yōu)勢