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株式會(huì )社ブルービ?ジョン(Blue Vision)推出的 BVM1022D 可変型光源 是一款高性能、多參數可調的機器視覺(jué)照明系統,專(zhuān)為高精度工業(yè)檢測與科研分析設計。該產(chǎn)品通過(guò)動(dòng)態(tài)調節光源角度、光譜、強度及偏振特性,顯著(zhù)提升缺陷檢出率與測量精度,廣泛應用于電子制造、半導體、印刷包裝、生物醫學(xué)及文物保護等領(lǐng)域。
光譜可調:支持 3000K–6500K 色溫調節,可選配 UV(365nm)或 SWIR(900–1700nm)擴展波段,滿(mǎn)足不同材料的反射/透射特性分析。
亮度精準控制:0–100% 無(wú)級調光,配合 16bit 高精度驅動(dòng),確保低噪穩定輸出。
多角度照明:電動(dòng)可調入射角度(±30°),支持環(huán)形光、同軸光、低角度光等多種模式快速切換,適應復雜表面形貌檢測。
采用導光結構,照度均勻性 >90%(符合 ISO/IEC 15415 標準),消除成像邊緣衰減。
μs 級外部觸發(fā)響應,與工業(yè)相機、PLC 實(shí)現精準同步,適用于高速生產(chǎn)線(xiàn)(最高 1.5ms 檢測節拍)。
可選配偏振片、漫射板、分光濾光片等光學(xué)模塊,快速適配不同檢測場(chǎng)景。
內置光參數記憶功能,存儲 100+ 預設方案,支持 FDA 21 CFR Part 11 合規數據追溯。
PCB 缺陷檢測:通過(guò)紅色環(huán)形光(625nm)凸顯微米級劃痕,01005 封裝元件(0.4×0.2mm)的缺陷檢出率提升至 99.2%(傳統光源僅 85.7%)。
晶圓檢測:SWIR 波段穿透硅片檢測內部缺陷,支持 12 英寸晶圓 <0.1μm 顆粒 識別。
復雜曲面零件(如齒輪、軸承)的 3D 尺寸測量,通過(guò)多角度掃描將重復精度提升至 ±1μm。
檢測效率優(yōu)化:汽車(chē)零部件檢測節拍時(shí)間 縮短 40%(從 2.5s → 1.5s)。
印刷套準檢測:多光譜分析精準識別 ≤10μm 的網(wǎng)點(diǎn)錯位,減少 50% 的廢品率。
細胞分析:488nm/635nm 雙波長(cháng)組合,提升流式細胞儀分選準確率 30%。
無(wú)損檢測文物表面微米級氧化層或修復痕跡,配合高顯色性光源(CRI>95)還原真實(shí)色彩。
成本優(yōu)化:替代傳統多光源組合方案,設備投資降低 60%,維護成本減少 45%。
柔性適配:?jiǎn)卧O備覆蓋 80% 以上檢測場(chǎng)景,支持快速換線(xiàn)(方案切換 <1s)。
智能化擴展:開(kāi)放 API 接口,可集成 AI 光控算法,實(shí)現自適應照明優(yōu)化。
BVM1022D 作為工業(yè) 4.0 時(shí)代的智能光學(xué)核心組件,將持續融合 AI 與 IoT 技術(shù),推動(dòng)機器視覺(jué)向 “自適應檢測" 方向發(fā)展。其模塊化架構為未來(lái)升級(如量子點(diǎn)光源、超快脈沖照明)預留空間,助力客戶(hù)構建下一代高柔性檢測系統。
株式會(huì )社ブルービジョン 致力于通過(guò)創(chuàng )新光學(xué)技術(shù),為全球工業(yè)與科研用戶(hù)提供 更精準、更高效、更智能 的視覺(jué)解決方案。