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熱物理顯微鏡TM3的測量原理

發(fā)布時(shí)間:2022-07-25 點(diǎn)擊量:1192

熱物理顯微鏡TM3的測量原理

在樣品上形成金屬薄膜,并用加熱激光定期加熱。

  1. 由于金屬的反射率具有隨表面溫度變化的特性(熱電阻法),因此通過(guò)捕捉與加熱激光同軸照射的檢測激光的反射強度變化來(lái)測量表面的相對溫度變化。 .

  2. 熱量從金屬薄膜傳播到樣品,導致表面溫度響應出現相位延遲。該相位延遲取決于樣品的熱特性。通過(guò)測量加熱光和檢測光之間的相位延遲來(lái)獲得熱射流率。


熱物理顯微鏡的測量原理(概述)


檢測特點(diǎn)

  • 熱物性顯微鏡是一種測量熱射流率的裝置,熱射流率是熱物理特性值之一。

  • 它是一種可以通過(guò)點(diǎn)、線(xiàn)和面測量樣品的熱特性的設備。

  • 還可以測量微米量級的熱物理性質(zhì)分布,這在傳統的熱物理性質(zhì)測量設備中被認為是困難的。

  • 它是一款能夠對熱物理特性進(jìn)行非接觸式高分辨率測量的設備。

  • 3 μm的檢測光點(diǎn)直徑可在微小區域內進(jìn)行高分辨率熱物性測量(點(diǎn)/線(xiàn)/面測量)。

  • 由于可以通過(guò)改變深度范圍進(jìn)行測量,因此可以測量從薄膜/多層膜到塊狀材料。

  • 您也可以測量板上的樣品。

  • 使用激光進(jìn)行非接觸式測量。

  • 可以檢測薄膜下的裂紋、空隙和剝落。