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可同時(shí)檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術(shù)

發(fā)布時(shí)間：2022-04-26　點(diǎn)擊量：1218

可同時(shí)檢測反射率和透射率的薄膜測厚技術(shù)

F10-RT 是一款緊湊型桌面測量系統，集成了測量單元和測量臺?？赏瑫r(shí)測量反射率和透射率，輕松分析膜厚、折射率和消光系數。

只需一根 USB 線(xiàn)和電源線(xiàn)即可輕松連接，無(wú)需調整光學(xué)系統即可進(jìn)行復雜設置，而且設置非常簡(jiǎn)單。

要特點(diǎn)

  • 緊湊型桌面測量系統，集成測量單元和測量臺
    光譜范圍廣，可選擇多種光源

  • 可同時(shí)測量反射率和透射率，并具有膜厚、折射率和消光系數分析功能，
    同時(shí)用標準維護相機記錄測量位置。

  • 放個(gè)樣品就好了。無(wú)需調整光學(xué)系統，設置非常簡(jiǎn)單

主要用途

平板聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、增透膜、PET、玻璃基板上的各種光學(xué)薄膜
光學(xué)鍍膜玻璃、眼鏡、鏡片等的硬涂層。
薄膜太陽(yáng)能電池CdTe、CIGS、非晶硅等

測量示例

用于平板的透明電極ITO的膜厚和折射率的測量實(shí)例
同時(shí)測量反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等。