絕緣層上的金屬薄膜電阻式厚度檢測技術(shù)

發(fā)布時(shí)間：2022-04-26　點(diǎn)擊量：1097

絕緣層上的金屬薄膜電阻式厚度檢測技術(shù)

它可以在短時(shí)間內（0.7秒）以高精度測量絕緣層（印刷電路板的銅箔、鍍層等）上的金屬膜。

使用個(gè)人計算機時(shí)，屏幕大、明亮且易于查看。

易于校準和測量。可以選擇兩種測量范圍（2 至 24 μm、10 至 120 μm）。

直方圖、配置文件和 xR 圖表在統計處理后總是立即可用。

如果您設置了薄膜厚度的上限和下限，您將收到異常值的通知。

可以為每個(gè)通道保存測量數據，以后可以為測量數據設置統計項目進(jìn)行統計處理。

由于您最多可以注冊 40 個(gè)頻道，因此您可以通過(guò)根據用戶(hù)名或部件號單獨注冊來(lái)管理頻道。

印刷線(xiàn)路板、
電子設備、電子元件

照明/電氣設備零件，NC / NF

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